對(duì)于新設(shè)計(jì)組裝的電路來(lái)說(shuō)，常見(jiàn)的故障原因有：

(1)實(shí)驗(yàn)電路與設(shè)計(jì)的原理圖不符;元件使用不當(dāng)或損壞;

(2)設(shè)計(jì)的電路本身就存在某些嚴(yán)重缺點(diǎn)，不能滿(mǎn)足技術(shù)要求，連線(xiàn)發(fā)生短路和開(kāi)路;

(3)焊點(diǎn)虛焊，接插件接觸不良，可變電阻器等接觸不良;

(4)電源電壓不合要求，性能差;

(5)儀器作用不當(dāng);

(6)接地處理不當(dāng);

(7)相互干擾引起的故障等。

檢查故障的一般方法有：直接觀(guān)察法、靜態(tài)檢查法、信號(hào)尋跡法、對(duì)比法、部件替換法旁路法、短路法、斷路法、暴露法等，下面主要介紹以下幾種：

1. 直接觀(guān)察法和信號(hào)檢查法：與前面介紹的調(diào)試前的直觀(guān)檢查和靜態(tài)檢查相似，只是更有目標(biāo)針對(duì)性。

2. 信號(hào)尋跡法：在輸入端直接輸入一定幅值、頻率的信號(hào)，用示波器由前級(jí)到后級(jí)逐級(jí)觀(guān)察波形及幅值，如哪一級(jí)異常，則故障就在該級(jí);對(duì)于各種復(fù)雜的電路，也可將各單元電路前后級(jí)斷開(kāi)，分別在各單元輸入端加入適當(dāng)信號(hào)，檢查輸出端的輸出是否滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求。

3. 對(duì)比法：將存在問(wèn)題的電路參數(shù)與工作狀態(tài)和相同的正常電路中的參數(shù)(或理論分析和仿真分析的電流、電壓、波形等參數(shù))進(jìn)行比對(duì)，判斷故障點(diǎn)，找出原因。

4. 部件替換法：用同型號(hào)的好器件替換可能存在故障的部件。

5. 加速暴露法：有時(shí)故障不明顯，或時(shí)有時(shí)無(wú)，或要較長(zhǎng)時(shí)間才能出現(xiàn)，可采用加速暴露法，如敲擊元件或電路板檢查接觸不良、虛焊等，用加熱的方法檢查熱穩(wěn)定性差等等。